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產(chǎn)品目錄
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  • 激光芯片開(kāi)封機(jī) SMART ETCH II
    激光芯片開(kāi)封機(jī) SMART ETCH II
    去除半導(dǎo)體芯片的塑封外殼,PCB板截面切割,以及其它類(lèi)似的破壞性物理試驗(yàn)或失效分析場(chǎng)景。
    型號(hào):Smart Etch II
    發(fā)布時(shí)間:2021-10-02
  • 激光芯片開(kāi)封機(jī) GLOBAL ETCH II
    激光芯片開(kāi)封機(jī) GLOBAL ETCH II
    芯片激光開(kāi)封機(jī)的工作原理是利用高能激光蝕刻掉芯片或者電子元器件的塑封外殼,從而光學(xué)觀測(cè)或者電氣性能測(cè)試提供了可能性,以便于實(shí)現(xiàn)X射線(xiàn)等無(wú)損檢測(cè)無(wú)法實(shí)現(xiàn)的功能。 激光開(kāi)封技術(shù)也可以在不破壞芯片或者電路的整體功能的前提下,去除局部的塑封材料,進(jìn)行測(cè)試甚至修復(fù)實(shí)驗(yàn)。與化學(xué)開(kāi)封技術(shù)相比,激光開(kāi)封更加高效,同時(shí)避免了減少?gòu)?qiáng)酸環(huán)境暴露。
    型號(hào):GLOBAL ETCH II
    發(fā)布時(shí)間:2023-10-09
  • Nisene化學(xué)芯片開(kāi)封機(jī)CuProtect
    Nisene化學(xué)芯片開(kāi)封機(jī)CuProtect
    JetEtch CuProtect是在基礎(chǔ)版的JetEtch Pro上增加了專(zhuān)利技術(shù)以保護(hù)芯片內(nèi)部的銅線(xiàn)在化學(xué)蝕刻過(guò)程中不受到損害。在化學(xué)蝕刻的過(guò)程中,JetEtch CuProtech會(huì)在芯片的銅線(xiàn)表面形成離子層,從而保護(hù)銅線(xiàn)被強(qiáng)酸所腐蝕。美國(guó)Nisene科技集團(tuán)有限公司從事集成電路失效分析的自動(dòng)開(kāi)封裝置研發(fā)超過(guò)40年,擁有多項(xiàng)電化學(xué)及微波等離子開(kāi)封機(jī)技術(shù)的專(zhuān)利。
    型號(hào):JetetchPro-Cu
    發(fā)布時(shí)間:2020-11-10
  • Nisene等離子芯片開(kāi)封機(jī)PlasmaEtch
    Nisene等離子芯片開(kāi)封機(jī)PlasmaEtch
    當(dāng)今世界越來(lái)越關(guān)注生態(tài)友好,半導(dǎo)體生產(chǎn)工藝的持續(xù)改進(jìn)則進(jìn)一步導(dǎo)致了集成電路內(nèi)部組件尺寸越來(lái)越小,也變得越來(lái)越靈敏和脆弱。由此導(dǎo)致了芯片失效分析的一個(gè)特定挑戰(zhàn):如何將樣品封裝去除卻不會(huì)導(dǎo)致功能失效? Nisene公司新一代的芯片開(kāi)封系統(tǒng)為半導(dǎo)體生產(chǎn)制造技術(shù)和失效分析之間的鴻溝搭建了一座橋梁:等離子芯片開(kāi)封機(jī)—PlasmaEtch Nisene科技集團(tuán)有限公司從事集成電路失效分析的自動(dòng)開(kāi)封裝置研發(fā)超過(guò)40年,擁有多項(xiàng)電化學(xué)及微波等離子開(kāi)封機(jī)技術(shù)的專(zhuān)利。
    型號(hào):PlasmaEtch
    發(fā)布時(shí)間:2023-03-01
  • Nisene化學(xué)芯片開(kāi)封機(jī)JetEtch Pro
    Nisene化學(xué)芯片開(kāi)封機(jī)JetEtch Pro
    如同當(dāng)年的JetEtch一樣,Nisene公司最新一代的全自動(dòng)濕法化學(xué)芯片開(kāi)封系統(tǒng)JetEtch Pro再一次以杰出的安全性與性能引領(lǐng)行業(yè)。 美國(guó)Nisene科技集團(tuán)有限公司從事集成電路失效分析的自動(dòng)開(kāi)封裝置研發(fā)超過(guò)40年,擁有多項(xiàng)電化學(xué)及微波等離子開(kāi)封機(jī)技術(shù)的專(zhuān)利。
    型號(hào):JetEtch Pro
    發(fā)布時(shí)間:2020-11-10
  • 激光芯片開(kāi)封機(jī) SMART ETCH II-SE
    激光芯片開(kāi)封機(jī) SMART ETCH II-SE
    芯片激光開(kāi)封機(jī)的工作原理是利用高能激光蝕刻掉芯片或者電子元器件的塑封外殼,從而光學(xué)觀測(cè)或者電氣性能測(cè)試提供了可能性,以便于實(shí)現(xiàn)X射線(xiàn)等無(wú)損檢測(cè)無(wú)法實(shí)現(xiàn)的功能。
    型號(hào):SMART ETCH II-SE
    發(fā)布時(shí)間:2023-04-21
  • JIACO等離子芯片開(kāi)封機(jī)MIP
    JIACO等離子芯片開(kāi)封機(jī)MIP
    JIACO 儀器公司的微波誘導(dǎo)等離子(MIP)芯片開(kāi)封系統(tǒng)是一款具有突破性的創(chuàng)新產(chǎn)品,可在非抽真空的常規(guī)氣壓下,采用氧氣和氫氣方案自動(dòng)完成芯片開(kāi)封過(guò)程,包含全自動(dòng)的超聲波清洗步驟,不損傷銀線(xiàn)的芯片開(kāi)封技術(shù)。
    型號(hào):MIP
    發(fā)布時(shí)間:2023-10-09
  • 激光芯片開(kāi)封機(jī) SMART ETCH UV
    激光芯片開(kāi)封機(jī) SMART ETCH UV
    芯片激光開(kāi)封機(jī)的工作原理是利用高能激光蝕刻掉芯片或者電子元器件的塑封外殼,從而光學(xué)觀測(cè)或者電氣性能測(cè)試提供了可能性,以便 于實(shí)現(xiàn)X射線(xiàn)等無(wú)損檢測(cè)無(wú)法實(shí)現(xiàn)的功能。 激光開(kāi)封技術(shù)也可以在不破壞芯片或者電路的整體功能的前提下,去除局部的塑封材料,進(jìn)行測(cè)試甚至修復(fù)實(shí)驗(yàn)。與化學(xué)開(kāi)封技術(shù)相比, 激光開(kāi)封更加高效,同時(shí)避免了減少?gòu)?qiáng)酸環(huán)境暴露。
    型號(hào):SMART ETCH UV
    發(fā)布時(shí)間:2022-10-22
  • Allied 超精密芯片銑拋機(jī) X-PREP?
    Allied 超精密芯片銑拋機(jī) X-PREP?
    The X-Prep? is a specialized 5-axis CNC-based milling/grinding/polishing machine designed to support electrical and physical failure analysis techniques and other applications requiring high precision sample preparation.
    型號(hào):X-PREP
    發(fā)布時(shí)間:2021-02-20
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