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光學與視頻雙測量系統 Hawk Duo

簡要描述:光學與視頻雙測量系統 Hawk Duo 英國Vision Engineering的光學和視頻雙系統測量顯微鏡Hawk Duo 適用于要求高質量和靈活性的應用中。Hawk Duo單個系統結合了光學測量和視頻測量兩種技術,因此,無論您測量什么樣的部件,它都是最理想的選擇。 測量范圍可達400mmx300mm Dynascope?光學顯微鏡技術能夠提供清晰度無與倫比的圖像,使測量得以精確、輕松地完成。 集成了視頻測量,實現終極控制功能和靈活性。

  • 更新時間:2024/9/11 0:00:00
  • 訪  問  量:7003
  • 產品型號:Hawk Duo
詳細介紹

概述

       英國工業顯微鏡有限公司將符合人機工學要求的測量顯微鏡與視頻測量系統相結合,創造了Hawk Duo。

       Hawk Duo能夠靈活測量常規和難以觀察的部件,因此,無論您測量哪種部件,它都是最理想的選擇。

       Hawk Duo 能夠極其精確地重復性測量所有材質的復雜零件,在常規和難以觀察的零件的測量方面特別突出,例如黑色或者透明塑料-這是多合一系統!

 

產品優勢

     ●  三維光學和視頻測量

     ●  已獲專利顯微鏡級高分辨率觀察頭體,可清晰界定邊緣,甚至是難以觀察樣品的邊緣。

     ●  集成了高分辨率視頻測量系統,是常規測量的理想之選。

     ●  高精測量臺選項

     ●  基于PC的強勁、直觀軟件

     ●  附有各種系統配置和選配件,包括全自動CNC控制link

兩種測量系統二合一 - 擴展更多功能

        為什么選擇光學和視頻測量系統? Hawk 系列的“Duo”是兩種技術的二合一系統,提供光學和視頻測量兩種領域內的最佳解決方案。無論您要測量哪種部件,它都是最理想的選擇。

        Hawk Duo是靈活強勁的解決方案,可以滿足最嚴格的測量要求。用戶甚至還能夠在同一測量程序中來回切換視頻和光學測量技術。

 

為什么使用光學測量?

        為了精確完成測量,需要識別被測量特征的邊緣。 Hawk Duo采用已獲專利的無目鏡測量顯微鏡技術,可提供高對比度、顯微級分辨率的部件圖像。

       還使得用戶可以極其詳細地觀察復雜或者難以觀察的特征,確保用戶精確測量所有部件,而不只是簡單部件。 絕佳的顯微鏡圖像還使得用戶可以進行高分辨率的目視檢測。

 

視頻測量

英國工業顯微鏡有限公司Hawk系列產品

       Hawk非接觸式測量系統包含一系列視覺系統產品,可針對具體的測量應用單獨定制。

       所有Hawk系統都配有英國工業顯微鏡有限公司的已獲專利Dynascope™觀察頭體,能夠提供極其清晰的圖像,使得測量得以精確、輕松地完成。


詳細信息
       Hawk Duo配有高分辨率攝像頭,配合使用一系列視頻邊緣檢測工具,非常適合許多常規零部件的測量;還配有符合人機工學要求的高精光學測量顯微鏡,幫助實現無可比擬的精確測量以及重要的可重復檢測功能。

       客戶之所以選擇Hawk Duo,是因為它可以測量所有常規部件;而且Hawk Duo還可以測量那些難以觀察的物體特征,或者要求100%可靠性的關鍵部件,或者用于需要同時執行目視檢測的應用。

Hawk系列與眾不同之處

       英國工業顯微鏡有限公司擁有許多光學和人機工學性能優化技術的世界專利。

       Hawk的專利技術Dynascope™可確保對復雜的低對比度物體進行可靠的觀察,提高測量精度和生產率的同時,還可以降低成本。

       黑色背景上測量黑色物體? 白色背景上測量白色物體? 透明物體? 可以非常詳細地觀察難以觀察的特征,從而可以輕松完成精確測量。

光學和視頻雙測量技術使得Hawk Duo成為以下應用情況下的理想之選

     ●  檢測那些邊緣容易識別,但是某些特征難以觀察的對象,例如:彩色塑料。

     ●  同時需要常規測量和關鍵尺寸測量的對象,例如醫療器械。

     ●  需要批量檢測和一次性檢測的零部件。

Dynascope™ 專利技術。

       Dynascope™技術省去了對傳統顯微鏡目鏡的需要,可為用戶提供高質量的目標物體圖像。 Hawk Duo是真正的光學顯微鏡。 通過符合人機工學要求的無目鏡觀察頭,可觀察到未經處理的高分辨率真色光學圖像。

光線通過Dynascope™光學器件,以雙(單)光程從單一觀察鏡頭中射出。 這些岀射光線直徑較大,這意味著用戶無需為了查看目標而將其眼睛精確對準觀察鏡頭。

采用新一代“多點觸控”測量軟件

       Hawk采用“新一代”多點觸控測量軟件(實現了“即觸即測”),這使得Hawk Duo觀測過程特別直觀,而且便于操作和學習使用。

       “即觸即測”意味著除了傳統的鼠標控制外,您還可以通過“擰動”完成變焦,通過“滑動屏幕”在圖像上搖拍,通過“觸摸”進行測量。 您可以將手指沿著一個形狀移動,以查看該特征。

       基于圖標的觸屏控制為用戶提供智能手機樣的熟悉感;它配有以Windows 7為基礎的操作系統,方便與Microsoft Excel(未包含)等各種應用程序進行集成或者與網絡打印機等連接。

       利用NLEC方法完成測量臺校準

       Hawk Duo 配備高規格、高性能的測量臺,其測量范圍達到400mm x300mm(16" x 12")。

       每一測量臺都在出廠前完成了非線性誤差修正(NLEC)校準,可確保最佳精度,可溯及NPL/NAMAS/NIST國際標準以符合ISO9000質量認證。

       結合了0.5μm分辨率的測量編碼器,使得系統具有精確至2μm*的可重復性,確保結果完全可靠。

*使用200mm x 150mm測量臺時(受控條件下200倍系統放大倍率)。

 

測量臺選項
150mm x150mm 200mm x150mm 300mm x 225mm 400mm x 300mm
  200mm x 150mm CNC    

 

系統選項

Hawk Duo非接觸式測量系統的模塊性,使得可實現針對具體的測量應用單獨定制各種視覺系統。

 

表面照明

表面照明

亮白色多點LED環形燈,可對測量目標均衡無陰影表面實現照明。

適用于各種常規測量應用

 

 

反射照明

反射照明或者“鏡后測光(TTL)”照明

反射照明裝置或者“鏡后測光(TTL)”照明裝置投射光線,使其通過物鏡,然后跟隨與圖像相同的光程岀射。

特別適用于檢測那些需要更高放大倍率的扁平狀和反光目標物體,或者用于照亮盲孔或較深的表面特征。 微型物鏡僅需要反射照明。

 

 

底部照明

底部照明

底部照明可提供清晰的邊緣輪廓,還可以用于觀察部件上的通孔或者突出半透明零件的特征。

配有拇指旋轉式光圈,通過調節底部光線,清晰界定邊緣。

 

 

濾色片

還配有底部濾色片,可強化待觀察的輪廓。

圖像捕捉

圖像捕捉

我們擁有一系列多媒體解決方案,可以使您輕松完成捕捉圖像的采集、處理和存檔等工作。

分享信息變得前所未有的簡單。 迅速對不合格零件的圖像進行標記,并以郵件形式發出以供討論。

 

 

定制網格

配有已經預先居中的定制網格

物鏡

有各種物鏡可供選擇: 快換型高數值孔徑的微距物鏡、四工位轉臺陣列、快換型微型物鏡

微距物鏡配有可以調節景深的光圈。



軟件
Hawk Duo CNC可選裝以下測量軟件。

M3“即觸即測”測量軟件

Hawk Duo CNC可以配合‘新一代’多點觸控測量軟件使用。該軟件采用“即觸即測”技術,使得Hawk特別直觀而且便于操作和學習使用。

“即觸即測”意味著除了傳統的鼠標控制外,您還可以通過“擰動”完成變焦,通過“滑動屏幕”在圖像上搖拍,通過“觸摸”進行測量。 您可以將手指沿著一個形狀移動,以查看該特征。

基于圖標的觸屏控制為用戶提供智能手機樣的熟悉感;它配有以Windows 7為基礎的操作系統,方便與Microsoft Excel(未包含)等各種應用程序進行集成或者與網絡打印機等連接。

  • 簡易而又強勁的特征測量
  • 觸屏操作
  • 軟件菜單選項簡單,操作人員可專注于檢測
  • 類似CAD的零件視圖標記,方便檢測測得數據。
  • 配置十字光標和完整的視頻邊緣檢測等多種視頻工具,可輔助正在進行的工作
  • 直接比較選項,可輕松將覆蓋圖紙導入CAD,以便檢查這些復雜的幾何形狀零件,從而輕松判定是否合格。

IK 5300高級測量軟件(以前的QC-5000)

IK 5300測量軟件是Hawk系列非接觸式測量系統內置的優秀控制界面,提供命令式解決方案,授權操作人員完成每一步測量程序。

  • 該軟件具有多種先進功能,比如自定義公式、條件編程、統計過程控制(SPC)或者RUNS數據庫(用于長期追蹤零部件性能)。
  • 可完成具有高級數據導入、導出和分析特性的多功能建模

 


技術

光學器件

已獲專利的雙光瞳單目鏡 Dynascope™無限修正光學系統,十字光標網格已經預先居中與雙眼對齊。

視頻

高分辨率彩色CCD攝像頭

放大倍率選項(系統總計)

提供微距物鏡和顯微物鏡兩種選擇。

單一的微距物鏡包括調節景深用的可調光圈。 微型物鏡安裝在4工位轉臺陣列內。

 

微距物鏡

物鏡 總放大倍率 工作距離 視場(mm Ø) 景深
1x 10x 84mm 14.2mm 270µm
2x 20x 81mm 7.1mm 67µm
5x 50x 61mm 2.8mm 10µm
10x 100x 32mm 1.4mm 6µm

 

微型物鏡(標準工作距離)

物鏡 總放大倍率 工作距離 視場(mm Ø) 景深
5x 50x 20mm 4.4mm 12.22µm
10x 100x 10.1mm 2.2mm 3.06µm
20x 200x 3.1mm 1.1mm 1.3µm
50x 500x 0.66mm 0.44mm 0.43µm

 

微型物鏡(長工作距離)

物鏡 總放大倍率 工作距離 視場(mm Ø) 景深
10x 100x 21mm 2.2mm 4.4µm
20x 200x 12mm 1.1mm 1.72µm
50x 500x 10.6mm 0.44mm 1.10µm
100x 1000x 3.4mm 0.22mm 0.43µm

 

微型物鏡(超長工作距離)

物鏡 總放大倍率 工作距離 視場(mm Ø) 景深
20x 200x 21mm 1.1mm 2.24µm

 

軟件

  • M3測量軟件
  • IK5300測量軟件

 

配件

  • 底部濾色片(增強異形或者車削零件的清晰度)

 

系統詳細信息

測量臺

測量范圍(X、Y)

150mm x150mm

測量范圍(Z)

202mm(最大244mm)*

測量精度

U954D = 2+(4.5L/1000)µm

測量臺可重復性
(X)
(Y)
(Z)

 
0.004mm
0.004mm
0.004mm**

編碼器可重復性
(X)
(Y)
(Z)

 
0.0005mm
0.001mm
0.0005mm

自動化

測量臺移動

手動

照明選項

表面照明

亮白色可控可編程象限LED環形燈。

反射照明

可控可編程LED反射照明。 鏡后測光(TTL) 微型物鏡需要反射照明。

底部照明

可控可編程LED底部照明 含光圈調節功能,能夠清晰界定邊緣。

尺寸

寬 x深 x 高

540mm x 700mm x 780mm

 

 

測量臺

測量范圍(X、Y)

200mm x150mm 200mm x 150mm CNC

測量范圍(Z) 

202mm(最大244mm)*

202mm(最大244mm)*

測量精確度

U952D = 2+(4.5L/1000)µm

U952D = 2+(4.5L/1000)µm

測量臺可重復性
(X)
(Y)
(Z)

 
0.002mm
0.002mm
0.004mm**

 
0.002mm
0.002mm
0.004mm**

編碼器分辨率
(X)
(Y)
(Z)

 
0.0005mm
0.0005mm
0.0005mm

 
0.0005mm
0.0005mm
0.0005mm

自動化

測量臺移動

手動

CNC自動化

照明選項

表面照明

亮白色可控可編程象限LED環形燈。

反射照明

可控可編程LED反射照明 鏡后測光(TTL)
微型物鏡需要反射照明。

底部照明

可控可編程LED底部照明 含光圈調節功能,能夠清晰界定邊緣。

尺寸

寬 x深 x 高

750mm x 700mm x 780mm

 

 

測量臺

測量范圍(X、Y)

300mm x 225mm

測量范圍(Z)

最大89mm*

測量精確度

U9515D = 2+(6.5L/1000)µm

測量臺可重復性
(X)
(Y)
(Z)

 
0.010mm
0.010mm
0.010mm**

編碼器分辨率
(X)
(Y)
(Z)

 
0.001mm
0.001mm
0.001mm

自動化

測量臺移動

手動

照明選項

表面照明

亮白色LED環形燈

反射照明

反射照明 鏡后測光(TTL) 微型物鏡需要反射照明。

底部照明

底部照明 含光圈調節功能,能夠清晰界定邊緣。

尺寸

寬 x深 x 高

1100mm x 980mm x 700mm

 

 

測量臺

測量范圍(X、Y)

400mm x 300mm

測量范圍(Z)

最大89mm*

測量精度

U952D = 15+(8.5L/1000)µm

測量臺可重復性
(X)
(Y)
(Z)

 
0.010mm
0.010mm
0.010mm**

編碼器分辨率
(X)
(Y)
(Z)

 
0.001mm
0.001mm
0.001mm

自動化

測量臺移動

手動

照明選項

表面照明

亮白色LED環形燈

反射照明

反射照明 鏡后測光(TTL) 微型物鏡需要反射照明。

底部照明

底部照明 含光圈調節功能,能夠清晰界定邊緣。

尺寸

寬 x深 x 高

1200mm x 1020mm x 700mm

 

* 相關配置。
**以10倍微距物鏡為基礎(100倍系統放大倍率)。

其中L=測得的長,單位mm(200倍系統放大倍率,采用受控條件)。

測量臺校準

所有精密測量臺的標準配置都進行出廠前非線性誤差修正(NLEC)校準

 


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